人工耳蜗植入体的可靠性
- 发表时间:2014-08-25 11:58:27
目前对于人工耳蜗的物理损害(就是指植入体故障)的报道的文献很少,主要是因为公司的检测结果通常并不会反馈给医院,所以目前有关植入体故障的文章少之又少。我费了半天劲才找到一篇还可以说的过去的文章,给大家分享一下。这篇文献是一位美国的医生在1996年发表的。其总结了212例由于装置故障而从植入者取出的耳蜗接受-刺激器,可能给他提供资料的是澳大利亚科利尔公司,所以其总结的所以病例均是澳大利亚的22通道植入体装置的故障总结。
他把这些故障归类为5种主要的类型。其中最多的是刺激器接收线圈的断裂,有51个孩子和12个成人植入者。主要的导致的因素是反复的头部的外力作用,但是目前公司已经采取了一定的改造措施来改进刺激器,目前已经获得了一定的改善。第二种常见的故障是静电的放电导致的植入体接收器的内部电路的损坏。可以发生在装置的生产过程中,或者植入者暴露在较高的静电中,在体内的植入体对于静电比较的敏感,比如在穿脱化纤含量较高的衣物的过程中,或者人体被电流击中的事件中,所以耳蜗植入者如果要行手术时是不能使用电刀的,也不能使用单极电凝。其病例数为26例儿童和18例成人植入者。第三种是刺激电极和植入体接收-刺激器连接的部分的损坏,有29例儿童和4例的成人植入者,在儿童植入者有较高的比例,可能的原因是随着儿童的成长,固定在耳蜗内的刺激电极和固定在颅骨的植入体接收-刺激器之间产生的反复的张力导致,目前公司已经对其进行了改进。第四种原因是接收-刺激器的电容故障,目前随着新的制造工艺的应用已经得到了改进。其病例数为2例儿童16例成人。第五种故障为耳蜗电极的损坏,共有6例儿童和4例成人的植入者。这五种原因共占212个总病例的168例,其余的44例为散发病例。从中可以看出儿童植入者占了较高的比例,可能和儿童好动其头部更容易发生撞击和头部仍在发育的过程中有关。
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